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物联网系统动态性能半物理验证技术(英文版)

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  • 出版社:科学
  • ISBN:9787030586667
  • 作者:编者:俞晓磊//汪东华//赵志敏
  • 页数:246
  • 出版日期:2018-01-01
  • 印刷日期:2018-01-01
  • 包装:平装
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1